PMP®/CAPM® EXAM PREP: A Basic Guide to Activity-On-Node and Critical Path Method - Tapa blanda

Jayanta KDas Purkayastha

 
9781614345046: PMP®/CAPM® EXAM PREP: A Basic Guide to Activity-On-Node and Critical Path Method
Tapa blanda
ISBN 10: 161434504X ISBN 13: 9781614345046
Editorial: BookLocker.com Inc, 2011

Sinopsis

A thorough and in-depth preparation guide for PMP® and CAPM® exams covering Precedence Diagramming Method/Activity-On-Node concepts and their analysis using Critical Path Method. This guide explains the concepts with illustrated examples with emphasis on special situations. Explanation of concepts through stepwise solved examples will provide readers hands-on ability for their application. This guide will serve as a launch pad for advanced study in this area beyond the requirements of the two exams.

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Acerca del autor

Charlotte y Peter Fiell son dos autoridades en historia, teoría y crítica del diseño y han escrito más de sesenta libros sobre la materia, muchos de los cuales se han convertido en éxitos de ventas. También han impartido conferencias y cursos como profesores invitados, han comisariado exposiciones y asesorado a fabricantes, museos, salas de subastas y grandes coleccionistas privados de todo el mundo. Los Fiell han escrito numerosos libros para TASCHEN, entre los que se incluyen 1000 Chairs, Diseño del siglo XX, El diseño industrial de la A a la Z, Scandinavian Design y Diseño del siglo XXI.

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Editorial
BookLocker.com Inc
Año de publicación
2011
Idioma
Inglés
ISBN 10 
161434504X
ISBN 13 
9781614345046
Encuadernación
Tapa blanda
Número de páginas
118
Contacto del fabricante
no disponible
Persona responsable
gpsr@libri.de
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