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Generalized Principal Component Analysis: 40 (Interdisciplinary Applied Mathematics) - Tapa blanda

 
9781493979127: Generalized Principal Component Analysis: 40 (Interdisciplinary Applied Mathematics)

Sinopsis

This book provides a comprehensive introduction to the latest advances in the mathematical theory and computational tools for modeling high-dimensional data drawn from one or multiple low-dimensional subspaces (or manifolds) and potentially corrupted by noise, gross errors, or outliers. This challenging task requires the development of new algebraic, geometric, statistical, and computational methods for efficient and robust estimation and segmentation of one or multiple subspaces. The book also presents interesting real-world applications of these new methods in image processing, image and video segmentation, face recognition and clustering, and hybrid system identification etc.

This book is intended to serve as a textbook for graduate students and beginning researchers in data science, machine learning, computer vision, image and signal processing, and systems theory. It contains ample illustrations, examples, and exercises and is made largely self-contained with three Appendices which survey basic concepts and principles from statistics, optimization, and algebraic-geometry used in this book.

René Vidal is a Professor of Biomedical Engineering and Director of the Vision Dynamics and Learning Lab at The Johns Hopkins University. 

Yi Ma is Executive Dean and Professor at the School of Information Science and Technology at ShanghaiTech University. S. Shankar Sastry is Dean of the College of Engineering, Professor of Electrical Engineering and Computer Science and Professor of Bioengineering at the University of California, Berkeley.

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Acerca del autor

René Vidal is a Professor of Biomedical Engineering and Director of the Vision Dynamics and Learning Lab at The Johns Hopkins University.

Yi Ma is Executive Dean and Professor at the School of Information Science and Technology at ShanghaiTech University.

S. Shankar Sastry is Dean of the College of Engineering, Professor of Electrical Engineering and Computer Science and Professor of Bioengineering at the University of California, Berkeley.

De la contraportada

This book provides a comprehensive introduction to the latest advances in the mathematical theory and computational tools for modeling high-dimensional data drawn from one or multiple low-dimensional subspaces (or manifolds) and potentially corrupted by noise, gross errors, or outliers. This challenging task requires the development of new algebraic, geometric, statistical, and computational methods for efficient and robust estimation and segmentation of one or multiple subspaces. The book also presents interesting real-world applications of these new methods in image processing, image and video segmentation, face recognition and clustering, and hybrid system identification etc.

This book is intended to serve as a textbook for graduate students and beginning researchers in data science, machine learning, computer vision, image and signal processing, and systems theory. It contains ample illustrations, examples, and exercises and is made largely self-contained with three Appendices which survey basic concepts and principles from statistics, optimization, and algebraic-geometry used in this book.

René Vidal is a Professor of Biomedical Engineering and Director of the Vision Dynamics and Learning Lab at The Johns Hopkins University. 

Yi Ma is Executive Dean and Professor at the School of Information Science and Technology at ShanghaiTech University. S. Shankar Sastry is Dean of the College of Engineering, Professor of Electrical Engineering and Computer Science and Professor of Bioengineering at the University of California, Berkeley.

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ISBN 10:  0387878106 ISBN 13:  9780387878102
Editorial: Springer-Verlag New York Inc., 2016
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Vidal, René; Ma, Yi; Sastry, Shankar
Publicado por Springer, 2018
ISBN 10: 1493979124 ISBN 13: 9781493979127
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Publicado por Springer New York Apr 2018, 2018
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René Vidal
Publicado por Springer New York, Springer US, 2018
ISBN 10: 1493979124 ISBN 13: 9781493979127
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