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Yield Simulation for Integrated Circuits - Tapa blanda

Walker, D.M.

 
9781475719321: Yield Simulation for Integrated Circuits
Tapa blanda
ISBN 10: 1475719329 ISBN 13: 9781475719321
Editorial: Springer, 2013

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Sinopsis

1. Introduction.- 2. Background.- 3. Defect Models.- 4. Defect Statistics.- 5. Fault Analysis.- 6. VLASIC Implementation.- 7. Redundancy Analysis System.- 8. Fabrication Data.- 9. Conclusions and Current Research.- References.

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Editorial
Springer
Año de publicación
2013
Idioma
Inglés
ISBN 10 
1475719329
ISBN 13 
9781475719321
Encuadernación
Paperback
Contacto del fabricante
no disponible
Persona responsable
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