9781461461647: Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Tapa blanda
ISBN 10: 1461461642 ISBN 13: 9781461461647
Editorial: Springer, 2013

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Sinopsis

Introduction.- CMOS Reliability Overview.- Transistor Aging Compact Modeling.- Background on IC Reliability Simulation.- Analog IC Reliability Simulation.- Integrated Circuit Reliability.- Conclusions.

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Editorial
Springer
Año de publicación
2013
Idioma
Inglés
ISBN 10 
1461461642
ISBN 13 
9781461461647
Encuadernación
Paperback
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no disponible
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