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Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing - Tapa blanda

Bhattacharya, Debashis; Hayes, John P.

 
9781461315285: Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Tapa blanda
ISBN 10: 146131528X ISBN 13: 9781461315285
Editorial: Springer, 2011

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  • EditorialSpringer
  • Año de publicación2011
  • ISBN 10 146131528X
  • ISBN 13 9781461315285
  • EncuadernaciónPaperback
  • IdiomaInglés

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