Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing - Tapa blanda

Bhattacharya, Debashis; Hayes, John P.

 
9781461315285: Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing
Tapa blanda
ISBN 10: 146131528X ISBN 13: 9781461315285
Editorial: Springer, 2011

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Editorial
Springer
Año de publicación
2011
Idioma
Inglés
ISBN 10 
146131528X
ISBN 13 
9781461315285
Encuadernación
Paperback
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