Testing and Reliable Design of CMOS Circuits - Tapa blanda

Jha, Niraj K.; Kundu, Sandip

 
9781461315261: Testing and Reliable Design of CMOS Circuits
Tapa blanda
ISBN 10: 1461315263 ISBN 13: 9781461315261
Editorial: Springer, 2011

Esta edición ISBN ya no está disponible.

Editorial
Springer
Año de publicación
2011
Idioma
Inglés
ISBN 10 
1461315263
ISBN 13 
9781461315261
Encuadernación
Paperback
Contacto del fabricante
no disponible
Persona responsable
no disponible

Otras ediciones populares con el mismo título

9780792390565: Testing and Reliable Design of CMOS Circuits: 88 (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)

Edición Destacada

ISBN 10:  0792390563 ISBN 13:  9780792390565
Editorial: Springer, 1989
Tapa dura