High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability - Tapa blanda

Eggersglüß, Stephan; Drechsler, Rolf

 
9781441999771: High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
Tapa blanda
ISBN 10: 1441999779 ISBN 13: 9781441999771
Editorial: Springer, 2012

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Sinopsis

Part I: Preliminaries and Previous Work.- Circuits and Testing.- Boolean Satisfiability.- ATPG Based on Boolean Satisfiability.- Part II: New SAT Techniques and their Application in ATPG.- Dynamic Clause Activation.- Circuit-based Dynamic Learning.- Part III: High Quality Delay Test Generation.- High Quality ATPG for Transition Faults.- Path Delay Fault Model.- Summary and Outlook.

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Editorial
Springer
Año de publicación
2012
Idioma
Inglés
ISBN 10 
1441999779
ISBN 13 
9781441999771
Encuadernación
Taschenbuch
Número de páginas
212
Contacto del fabricante
no disponible
Persona responsable
CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
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