Advanced Materials Characterization: Basic Principles, Novel Applications, and Future Directions (Advanced Materials Processing and Manufacturing) - Tapa dura
Sinopsis
The book covers various methods of characterization of advanced materials commonly used in engineering including understanding of the working principle and applicability of devices. Major instruments covered include X-Ray Diffraction, NSOM Raman, X-Ray Photo Spectroscopy, UV-VIS- NIR Spectrosphotometer, FTIR Spectroscopy, and so forth.
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Acerca del autor
Ch Sateesh Kumar
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Advanced Materials Characterization : Basic Principles, Novel Applications, and Future Directions
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