Microelectronic Reliability: Integrity Assessment and Assurance: v. 2 (Electronic Materials & Devices Library) - Tapa dura
Sinopsis
A companion to v.1 (which covers reliability, test, and diagnostics), this volume explains the main failure mechanisms which may affect silicon devices and shows their effect on reliability characteristics. Due to the importance of VLSI devices, emphasis is given to metalizations and latch-up. Acidi
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Reseña del editor
A companion to v.1 (which covers reliability, test, and diagnostics), this volume explains the main failure mechanisms which may affect silicon devices and shows their effect on reliability characteristics. Due to the importance of VLSI devices, emphasis is given to metalizations and latch-up. Acidi
Biografía del autor
Pollino received a degree in physics from the University of Torino. Since 1980 he has been in charge of the reliability section of the technological division of CSELT. He teaches Electronic Technologies as associate professor.
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Microelectronic Reliability, Vol. 2: Integrity Assessment and Assurance (Artech House Materials Science Library)
Publicado por
Artech House Publishers, 1989
ISBN 10: 0890063508
ISBN 13: 9780890063507
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Microelectronic Reliability: Integrity Assessment and Assurance
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Microelectronic Reliability, Vol. 2: Integrity Assessment and Assurance (Artech House Materials Science Library) (English and Italian Edition)
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Microelectronic Reliability Integrity Assessment and Assurance Integrity, Assessment and Assurance v 2 Electronic Materials Devices Library
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Microelectronic Reliability
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Microelectronic Reliability: Integrity Assessment and Assurance
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