(IPF)MICROELECTRONIC RELIABILITY: Test and Diagnostics: v. 1 (Materials science library) - Tapa dura
Sinopsis
Text/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures. Some of the new changes under development to cope with pressures brought
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Text/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures. Some of the new changes under development to cope with pressures brought
Biografía del autor
Hakim, U.S. Army LABCOM, Fort Monmouth, New Jersey.
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Microelectronic Reliability, Vol. 1: Reliability, Test and Diagnostics (Artech House Materials Science Library) (English and Italian Edition)
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Artech House Publishers, 1989
ISBN 10: 0890062846
ISBN 13: 9780890062845
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Microelectronic Reliability : Reliability, Test and Diagnostics
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Microelectronic Reliability Vol I Test and Diagnostics Reliability, Test and Diagnostics v 1 Materials science library
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Microelectronic Reliability Vol. I: Test and Diagnostics
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