The volume contains 78 contributions to the important field of semiconductor defect control and defect engineering.
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Coverage includes: semiconductors; gallium arsenide; silicon; epitaxial growth; and interfacial dislocations.
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Trade Paperback. Condición: Fine. Fouth International Meeting. Previous owner's name, otherwise a fine paperback copy, yellow cover. Proceedings of the 4th International Autumn Meeting held in Chossewitz, Germany, 1991. Nº de ref. del artículo: 056751
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