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Data Modeling for Metrology and Testing in Measurement Science (Modeling and Simulation in Science, Engineering and Technology) - Tapa dura
Sinopsis
Book by Pavese Franco Forbes Alistair B
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Críticas
From the reviews:
“This is a surprisingly eclectic compilation that I found full of interesting concepts and new knowledge. ... Academic researchers and National Measurement Institutes will certainly recommend the text to their libraries. Their research students will benefit ... .” (D. Brynn Hibbert, Accreditation and Quality Assurance, Vol. 15, 2010)Reseña del editor
This book provide a comprehensive set of modeling methods for data and uncertainty analysis, taking readers beyond mainstream methods and focusing on techniques with a broad range of real-world applications.
The book will be useful as a textbook for graduate students, or as a training manual in the fields of calibration and testing. The work may also serve as a reference for metrologists, mathematicians, statisticians, software engineers, chemists, and other practitioners with a general interest in measurement science.
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- EditorialBirkhäuser
- Año de publicación2009
- ISBN 10 0817645926
- ISBN 13 9780817645922
- EncuadernaciónTapa dura
- IdiomaInglés
- Número de páginas512
- EditorPavese Franco, Forbes Alistair B.
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Data Modeling for Metrology and Testing in Measurement Science (Modeling and Simulation in Science, Engineering and Technology)
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Data Modeling for Metrology and Testing in Measurement Science
Publicado por
Birkhäuser Boston, 2008
ISBN 10: 0817645926
ISBN 13: 9780817645922
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Condición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut - Gepflegter, sauberer Zustand. | Seiten: 512 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher. Nº de ref. del artículo: 4399232/2
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Data Modeling for Metrology and Testing in Measurement Science
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Takes the reader beyond mainstream methods described in standard texts on data and uncertainty analysisReal-world applications in a variety of fields, including chemistry, software engineering, and metrologyFor a broad audience of graduate . Nº de ref. del artículo: 5975853
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Birkhäuser Boston Dez 2008, 2008
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ISBN 13: 9780817645922
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The aim of this book is to provide, rstly, an introduction to probability and statistics especially directed to the metrology and testing elds and secondly, a comprehensive, newer set of modelling methods for data and uncertainty analysis that are generally not considered yet within mainstream methods. The book brings, for the rst time, a coherent account of these newer me- ods and their computational implementation. They are potentially important because they address problems in application elds where the usual hypot- ses that are at the basis of most of the traditional statistical and probabilistic methods, for example, relating to normality of the probability distributions, are frequently not ful lled to such an extent that an accurate treatment of the calibration or test data using standard approaches is not possible. Additi- ally, the methods can represent alternative ways of data analysis, allowing a deeper understanding of complex situations in measurement. The book lends itself as a possible textbook for undergraduate or postgraduate study in an area where existing texts focus mainly on the most common and well-known methods that do not encompass modern approaches to calibration and testing problems. The book is structured in such a way to guide readers with only a g- eral interest in measurement issues through a series of review papers, from an initial introduction to modelling principles in metrology and testing, to the basic principles of probability in metrology and statistical approaches to - certainty assessment. 512 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9780817645922
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