Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation: 73 (The Springer International Series in Engineering and Computer Science) - Tapa dura
Sinopsis
Book by KwangTing Tim Cheng Agrawal Vishwani D
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 73)
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 73)
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation:
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Boston. Kluwer Academic, 1989
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ISBN 13: 9780792390251
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Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
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Publicado por
Kluwer Academic Publishers, 1989
ISBN 10: 0792390253
ISBN 13: 9780792390251
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Condición: New. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 148 pages, biography. BIC Classification: TJF. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 11. Weight in Grams: 410. . 1989. Hardback. . . . . Nº de ref. del artículo: V9780792390251
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