Artículos relacionados a Digital Systems Testing Revised
Sinopsis
This updated printing of the leading text and reference in digital systems testing and testable design provides comprehensive, state-of-the-art coverage of the field. Included are extensive discussions of test generation, fault modeling for classic and new technologies, simulation, fault simulation, design for testability, built-in self-test, and diagnosis. Complete with numerous problems, this book is a must-have for test engineers, ASIC and system designers, and CAD developers, and advanced engineering students will find this book an invaluable tool to keep current with recent changes in the field.
"Sinopsis" puede pertenecer a otra edición de este libro.
Acerca del autor
Miron Abramovici is a Distinguished Member of the Technical Staff at AT&T Bell Laboratories in Murray Hill, and an Adjunct Professor of Computer Engineering at the Illinois Institute of Technology in Chicago.
Melvin A. Breuer is a Professor of Electrical Engineering and Computer Science at the University of Southern California in Los Angeles.
Arthur D. Friedman is a Professor in the Department of Electrical Engineering and Computer Science at George Washington University.
All three authors are Fellows of the IEEE and have contributed extensively to the fields discussed in this book.
De la contraportada
This widely-used textbook provides comprehensive, state-of-the-art coverage of digital systems testing and testable design.
Considered a definitive text in this area, the book includes in-depth discussions of the following topics:
Test generation
Fault modeling for classic and new technologies
Simulation
Fault simulation
Design for testability
Built-in self-test Diagnosis
All topics are covered extensively, from fundamental concepts to advanced techniques.
Successfully used world-wide at leading universities, the book is appropriate for graduate-level and senior-level undergraduate courses. Numerous examples and problems help make the learning process easier for the reader. Test engineers, ASIC and system designers, and CAD developers will find it an invaluable tool to keep current with recent changes in the field.
"Sobre este título" puede pertenecer a otra edición de este libro.
- EditorialJohn Wiley & Sons
- Año de publicación1994
- ISBN 10 0780310624
- ISBN 13 9780780310629
- EncuadernaciónTapa dura
- IdiomaInglés
- Número de páginas672
- Contacto del fabricanteno disponible
EUR 7,88
EUR 19,52 gastos de envío desde Estados Unidos de America a España
Destinos, gastos y plazos de envíoComprar nuevo
Ver este artículo
EUR 70,14
EUR 38,26 gastos de envío desde Estados Unidos de America a España
Destinos, gastos y plazos de envíoOtras ediciones populares con el mismo título
Resultados de la búsqueda para Digital Systems Testing Revised
Imagen de archivo
Digital Systems Testing and Testable Design
Publicado por
Wiley-IEEE Press, 1994
ISBN 10: 0780310624
ISBN 13: 9780780310629
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Hardcover. Condición: Good. No Jacket. Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less 2.99. Nº de ref. del artículo: G0780310624I3N00
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Digital Systems Testing & Testable Design
Publicado por
Wiley-IEEE Press, 1994
ISBN 10: 0780310624
ISBN 13: 9780780310629
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: SecondSale, Montgomery, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Condición: Very Good. Item in very good condition! Textbooks may not include supplemental items i.e. CDs, access codes etc. Nº de ref. del artículo: 00085123432
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Digital Systems Testing & Testable Design
Publicado por
Wiley-IEEE Press, 1994
ISBN 10: 0780310624
ISBN 13: 9780780310629
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: SGS Trading Inc, Franklin Lakes, NJ, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Hardcover. Condición: Good. US Edition Textbook, May Have Highlights, Notes and/or Underlining, BOOK ONLY-NO ACCESS CODE, NO CD, Ships with Emailed Tracking from USA. Nº de ref. del artículo: NEB-APR-2017-780310624-5
Cantidad disponible: 2 disponibles
Imagen de archivo
Digital Systems Testing & Testable Design
Publicado por
Wiley-IEEE Press (edition 1), 1994
ISBN 10: 0780310624
ISBN 13: 9780780310629
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: BooksRun, Philadelphia, PA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Hardcover. Condición: Fair. 1. Ship within 24hrs. Satisfaction 100% guaranteed. APO/FPO addresses supported. Nº de ref. del artículo: 0780310624-7-1
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Digital Systems Testing & Testable Design
Publicado por
Wiley-IEEE Press, 1994
ISBN 10: 0780310624
ISBN 13: 9780780310629
Antiguo o usado
Tapa dura
Original o primera edición
Librería: Textbooks_Source, Columbia, MO, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
hardcover. Condición: Good. 1st Edition. Ships in a BOX from Central Missouri! May not include working access code. Will not include dust jacket. Has used sticker(s) and some writing or highlighting. UPS shipping for most packages, (Priority Mail for AK/HI/APO/PO Boxes). Nº de ref. del artículo: 000238935U
Cantidad disponible: 5 disponibles
Imagen de archivo
Digital Systems Testing & Testable Design
Publicado por
Wiley-IEEE Press, 1994
ISBN 10: 0780310624
ISBN 13: 9780780310629
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
hardcover. Condición: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority! Nº de ref. del artículo: S_432321437
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Digital Systems Testing & Testable Design
Librería: BennettBooksLtd, North Las Vegas, NV, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
hardcover. Condición: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title! Nº de ref. del artículo: Q-0780310624
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Digital Systems Testing and Testable Design Abramovici, Miron; Breuer, Melvin A. and Friedman, Arthur D.
Librería: Aragon Books Canada, OTTAWA, ON, Canada
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Hardcover. Condición: New. Nº de ref. del artículo: DCBP--0095
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen del vendedor
Digital Systems Testing and Testable Design
Publicado por
Wiley-IEEE Press, 1994
ISBN 10: 0780310624
ISBN 13: 9780780310629
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: good. May show signs of wear, highlighting, writing, and previous use. This item may be a former library book with typical markings. No guarantee on products that contain supplements Your satisfaction is 100% guaranteed. Twenty-five year bookseller with shipments to over fifty million happy customers. Nº de ref. del artículo: 36253-5
Cantidad disponible: 5 disponibles
Imagen del vendedor
Digital Systems Testing and Testable Design
Publicado por
Wiley-IEEE Press, 1994
ISBN 10: 0780310624
ISBN 13: 9780780310629
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: As New. Unread book in perfect condition. Nº de ref. del artículo: 36253
Cantidad disponible: Más de 20 disponibles