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2000 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems (Dft 2000) - Tapa blanda
Sinopsis
This work constitutes the proceedings of the 2000 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2000). Subjects addressed include: yield analysis and modelling; wafer scale/large area systems; fault-tolerant systems; tesitng strategies; and more.
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Reseña del editor
This work constitutes the proceedings of the 2000 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2000). Subjects addressed include: yield analysis and modelling; wafer scale/large area systems; fault-tolerant systems; tesitng strategies; and more.
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2000 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems (Dft 2000)
Publicado por
I.E.E.E.Press, 2000
ISBN 10: 0769507190
ISBN 13: 9780769507194
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Librería: D2D Books, Berkshire, Reino Unido
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