Electron Microscopy and Multiscale Modeling: An International Conference: v. 999 (AIP Conference Proceedings / Materials Physics and Applications) - Tapa dura

 
9780735405196: Electron Microscopy and Multiscale Modeling: An International Conference: v. 999 (AIP Conference Proceedings / Materials Physics and Applications)
Tapa dura
ISBN 10: 0735405190 ISBN 13: 9780735405196
Editorial: American Institute of Physics, 2008

Reseña del editor

The EMMM-2007 Conference brought together leading experts in electron microscopy and materials modeling from around the world to explore how to synergistically combine atomic scale characterization and modeling to enhance the development of new materials.

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Editorial
American Institute of Physics
Año de publicación
2008
Idioma
Inglés
ISBN 10 
0735405190
ISBN 13 
9780735405196
Encuadernación
Tapa dura
Número de páginas
308
Editor
Avilov Anatoly, Dudarev Sergei, Marks Laurence
Contacto del fabricante
Springer-Verlag GmbH
customerservice@springernature.com

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