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Sinopsis
The most comprehensive and wide ranging book on the testing of semiconductor devices and systems.
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Acerca de los autores
Niraj Jha is Professor of Electrical Engineering at Princeton University and head of the Center of Embedded System-on-a-Chip Design, where his current research is focussed on the synthesis and testing of these devices. He is a fellow of IEEE, associate editor of IEEE Transactions on VLSI Systems and The Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA) and a recipient of the AT&T Foundation award and the NEC preceptorship award for research excellence.
Sandeep Gupta is an Associate Professor in the Department of Electrical Engineering at the University of Southern California, USA. He is Co-Director of the M.S. Program in VLSI Design, with research interests in the area of VLSI testing and design. He is a member of the IEEE.
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Testing of Digital Systems
Publicado por
Cambridge University Press, 2003
ISBN 10: 0521773563
ISBN 13: 9780521773560
Antiguo o usado
Tapa dura
Original o primera edición
Librería: Better World Books Ltd, Dunfermline, Reino Unido
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Testing of Digital Systems
Publicado por
Cambridge University Press, 2003
ISBN 10: 0521773563
ISBN 13: 9780521773560
Antiguo o usado
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Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino Unido
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Testing of Digital Systems
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Cambridge University Press, 2003
ISBN 10: 0521773563
ISBN 13: 9780521773560
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Testing of Digital Systems
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Librería: Webbooks, Wigtown, Wigtown, Reino Unido
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Librería: Kellogg Creek Books, Portland, OR, Estados Unidos de America
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Cambridge University Press, 2003
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ISBN 10: 0521773563
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Cambridge University Press, 2003
ISBN 10: 0521773563
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Nuevo
Tapa dura
Librería: The Book Spot, Sioux Falls, MN, Estados Unidos de America
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Librería: Toscana Books, AUSTIN, TX, Estados Unidos de America
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Hardcover. Condición: new. Excellent Condition.Excels in customer satisfaction, prompt replies, and quality checks. Nº de ref. del artículo: Scanned0521773563
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