Sinopsis
Reflection high-energy electron diffraction (RHEED) is the analytical tool of choice for characterizing thin films during growth by molecular beam epitaxy, since it is very sensitive to surface structure and morphology. This 2004 book serves as an introduction to RHEED and describes detailed experimental and theoretical treatments for experts.
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Acerca del autor
Ayahiko Ichimiya is a Professor in the Department of Quantum Engineering, Nagoya University. Philip I. Cohen is a Professor in the Department of Electrical and Computer Engineering, University of Minnesota.
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Reflection High-Energy Electron Diffraction
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