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Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology 2nd Edition Paperback - Tapa blanda

 
9780521142304: Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology 2nd Edition Paperback

Sinopsis

This 2005 book forms a comprehensive text on EMPA and SEM for geological postgraduate and postdoctoral researchers, as well as those working in industrial laboratories. Throughout the book there is an emphasis on geological aspects and unnecessary technical detail is avoided in order to make the book easily accessible.

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Acerca del autor

Charlotte y Peter Fiell son dos autoridades en historia, teoría y crítica del diseño y han escrito más de sesenta libros sobre la materia, muchos de los cuales se han convertido en éxitos de ventas. También han impartido conferencias y cursos como profesores invitados, han comisariado exposiciones y asesorado a fabricantes, museos, salas de subastas y grandes coleccionistas privados de todo el mundo. Los Fiell han escrito numerosos libros para TASCHEN, entre los que se incluyen 1000 Chairs, Diseño del siglo XX, El diseño industrial de la A a la Z, Scandinavian Design y Diseño del siglo XXI.

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9780521848756: Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology 2nd Edition Hardback

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ISBN 10:  052184875X ISBN 13:  9780521848756
Editorial: Cambridge University Press, 2005
Tapa dura

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Reed, S. J. B.
Publicado por Cambridge University Press, 2010
ISBN 10: 052114230X ISBN 13: 9780521142304
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Publicado por Cambridge University Press, 2010
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Paperback. Condición: Brand New. 2nd edition. 203 pages. 9.50x6.75x0.50 inches. In Stock. This item is printed on demand. Nº de ref. del artículo: __052114230X

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Publicado por Cambridge University Press, GB, 2010
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Paperback. Condición: New. Originally published in 2005, this book covers the closely related techniques of electron microprobe analysis (EMPA) and scanning electron microscopy (SEM) specifically from a geological viewpoint. Topics discussed include: principles of electron-target interactions, electron beam instrumentation, X-ray spectrometry, general principles of SEM image formation, production of X-ray 'maps' showing elemental distributions, procedures for qualitative and quantitative X-ray analysis (both energy-dispersive and wavelength-dispersive), the use of both 'true' electron microprobes and SEMs fitted with X-ray spectrometers, and practical matters such as sample preparation and treatment of results. Throughout, there is an emphasis on geological aspects not mentioned in similar books aimed at a more general readership. The book avoids unnecessary technical detail in order to be easily accessible, and forms a comprehensive text on EMPA and SEM for geological postgraduate and postdoctoral researchers, as well as those working in industrial laboratories. Nº de ref. del artículo: LU-9780521142304

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S Reed
ISBN 10: 052114230X ISBN 13: 9780521142304
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Paperback. Condición: New. Originally published in 2005, this book covers the closely related techniques of electron microprobe analysis (EMPA) and scanning electron microscopy (SEM) specifically from a geological viewpoint. Topics discussed include: principles of electron-target interactions, electron beam instrumentation, X-ray spectrometry, general principles of SEM image formation, production of X-ray 'maps' showing elemental distributions, procedures for qualitative and quantitative X-ray analysis (both energy-dispersive and wavelength-dispersive), the use of both 'true' electron microprobes and SEMs fitted with X-ray spectrometers, and practical matters such as sample preparation and treatment of results. Throughout, there is an emphasis on geological aspects not mentioned in similar books aimed at a more general readership. The book avoids unnecessary technical detail in order to be easily accessible, and forms a comprehensive text on EMPA and SEM for geological postgraduate and postdoctoral researchers, as well as those working in industrial laboratories. Nº de ref. del artículo: LU-9780521142304

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