Methods of Measurement for Semiconductor Materials, Process Control, and Devices: Quarterly Report; April 1 to June 30, 1971 (Classic Reprint) - Tapa blanda
Sinopsis
Excerpt from Methods of Measurement for Semiconductor Materials, Process Control, and Devices: Quarterly Report; April 1 to June 30, 1971
Through Research and Technical Services Projects 4251120 4251123, 4251126, 4252114, 4252119, 4252128, 4254111, 4254112, and 425115.
About the Publisher
Forgotten Books publishes hundreds of thousands of rare and classic books. Find more at www.forgottenbooks.com
This book is a reproduction of an important historical work. Forgotten Books uses state-of-the-art technology to digitally reconstruct the work, preserving the original format whilst repairing imperfections present in the aged copy. In rare cases, an imperfection in the original, such as a blemish or missing page, may be replicated in our edition. We do, however, repair the vast majority of imperfections successfully; any imperfections that remain are intentionally left to preserve the state of such historical works.
"Sinopsis" puede pertenecer a otra edición de este libro.
Otras ediciones populares con el mismo título
Resultados de la búsqueda para Methods of Measurement for Semiconductor Materials,...
Imagen del vendedor
Methods of Measurement for Semiconductor Materials, Process Control, and
Impresión bajo demandaLibrería: Forgotten Books, London, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Paperback. Condición: New. Print on Demand. This book is a reproduction of an important historical work, digitally reconstructed using state-of-the-art technology to preserve the original format. In rare cases, an imperfection in the original, such as a blemish or missing page, may be replicated in the book. print-on-demand item. Nº de ref. del artículo: 9780483294370_0
Comprar nuevo
EUR 15,59
Gastos de envío gratis
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: Más de 20 disponibles
Imagen de archivo
Methods of Measurement for Semiconductor Materials, Process Control, and Devices
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
PAP. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000. Nº de ref. del artículo: LW-9780483294370
Comprar nuevo
EUR 22,00
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 15 disponibles
Imagen de archivo
Methods of Measurement for Semiconductor Materials, Process Control, and Devices
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
PAP. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000. Nº de ref. del artículo: LW-9780483294370
Comprar nuevo
EUR 20,79
Envío por EUR 3,82
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 15 disponibles