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Sinopsis
Statistical techniques for dealing with quantitative data are important tools for every geographer. This is the first book to bring the traditional tools of quantitative geography into the GIS environment. Up to this point, existing books have relied on older software not widely found in a geography context. This brand new resource teaches professionals and students alike how to use their software in applying established statistical techniques.
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Acerca del autor
Jay Lee, PhD, is Associate Professor of Geography at Kent State University in Ohio and served as associate editor of the Wiley journal, Applied Geographic Studies. David W.S. Wong, PhD, is Associate Professor of Earth Sciences at George Mason University in Fairfax, Virginia.
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Statistical Analysis with ArcView GIS
Publicado por
Wiley & Sons, Incorporated, John, 2000
ISBN 10: 0471348740
ISBN 13: 9780471348740
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Statistical Analysis with ArcView GIS (r)
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Statistical Analysis with ArcView GIS
Publicado por
John Wiley & Sons Australia, Limited, Milton, QLD, Australia, 2001
ISBN 10: 0471348740
ISBN 13: 9780471348740
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Statistical Analysis With Arcview G I S
Publicado por
John Wiley & Sons Inc, 2000
ISBN 10: 0471348740
ISBN 13: 9780471348740
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Librería: bmyguest books, Toronto, ON, Canada
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Statistical Analysis with ArcView GIS
Librería: The Book Bin, Salem, OR, Estados Unidos de America
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