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Sinopsis
Título: Pattern Classification and Scene Analysis
Autor(s): Peter E. Hart et Richard O. Duda
Editor: John Wiley & Sons Inc
Año de publicación: 1973
Estado: Segunda mano - Bueno
ISBN : 9780471223610
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Reseña del editor
Provides a unified, comprehensive and up-to-date treatment of both statistical and descriptive methods for pattern recognition. The topics treated include Bayesian decision theory, supervised and unsupervised learning, nonparametric techniques, discriminant analysis, clustering, preprosessing of pictorial data, spatial filtering, shape description techniques, perspective transformations, projective invariants, linguistic procedures, and artificial intelligence techniques for scene analysis.
Nota de la solapa
Pattern Classification and Scene Analysis By Richard O. Duda and Peter E. Hart Here is a unified, Comprehensive, and up-to-date treatment of the theoretical principles of pattern recognition. These principles are applicable to a great variety of problems of current interest, such as character recognition, speech recognition, speaker identification, fingerprint recognition, the analysis of biomedical photographs, aerial photoreconnaissance, automatic inspection for industrial quality control, and visual systems for robots. Throughout Pattern Classification and Scene Analysis, the authors have balanced their presentation to reflect the relative importance of the many theoretical topics in the field. Pattern Classification and Scene Analysis is the first book to provide comprehensive coverage of both statistical classification theory and computer analysis of pictures. Part I covers Bayesian decision theory, supervised and unsupervised learning, nonparametric techniques, discriminant analysis, and clustering. Part II describes many techniques of current interest in automatic scene analysis, including preprocessing of pictorial data, spatial filtering, shape-description techniques, perspective transformations, projective invariants, linguistic procedures, and artificial intelligence techniques for scene analysis. Although the theories and techniques of pattern recognition are largely mathematical, the authors have been more concerned with providing insight and understanding than with establishing rigorous mathematical foundations. The many illustrative examples, plausibility arguments, and discussions of the behavior of solutions reflect this concern. Extensive bibliographical and historical remarks at the end of each chapter further enhance the presentation. Standard notation is used wherever possible, and a comprehensive index is included. Typical first-year graduate students will find most of the mathematical arguments well within their grasp. Because the exposition is clear and balanced, Pattern Classification and Scene Analysis is suitable for both college and professional use. In particular, it will appeal to graduate students and professionals in the fields of computer science, electrical engineering, and statistics. Students and professionals in psychology, biomedical science, meteorology, and biology will also find it of value for the light it sheds on such areas as visual perception, image processing, and numerical taxonomy.
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- EditorialJohn Wiley & Sons Inc
- Año de publicación1973
- ISBN 10 0471223611
- ISBN 13 9780471223610
- EncuadernaciónTapa dura
- IdiomaInglés
- Número de páginas502
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Pattern Classification and Scene Analysis
Publicado por
Wiley (edition 1), 1973
ISBN 10: 0471223611
ISBN 13: 9780471223610
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Publicado por
Wiley & Sons, Incorporated, John, 1973
ISBN 10: 0471223611
ISBN 13: 9780471223610
Antiguo o usado
Tapa dura
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