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Structural and Residual Stress Analysis by Nondestructive Methods: Evaluation - Application - Assessment - Tapa dura

 
9780444824769: Structural and Residual Stress Analysis by Nondestructive Methods: Evaluation - Application - Assessment

Sinopsis

The field of stress analysis has gained its momentum from the widespread applications in industry and technology and has now become an important part of materials science. Various destructive as well as nondestructive methods have been developed for the determination of stresses. This timely book provides a comprehensive review of the nondestructive techniques for strain evaluation written by experts in their respective fields.The main part of the book deals with X-ray stress analysis (XSA), focussing on measurement and evaluation methods which can help to solve the problems of today, the numerous applications of metallic, polymeric and ceramic materials as well as of thin-film-substrate composites and of advanced microcomponents. Furthermore it contains data, results, hints and recommendations that are valuable to laboratories for the certification and accreditation of their stress analysis.Stress analysis is an active field in which many questions remain unsettled. Accordingly, unsolved problems and conflicting results are discussed as well. The assessment of the experimentally determined residual and structural stress states on the static and dynamic behavior of materials and components is handled in a separate chapter.Students and engineers of materials science and scientists working in laboratories and industries will find this book invaluable.

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Reseña del editor

The field of stress analysis has gained its momentum from the widespread applications in industry and technology and has now become an important part of materials science. Various destructive as well as nondestructive methods have been developed for the determination of stresses. This timely book provides a comprehensive review of the nondestructive techniques for strain evaluation written by experts in their respective fields.

The main part of the book deals with X-ray stress analysis (XSA), focussing on measurement and evaluation methods which can help to solve the problems of today, the numerous applications of metallic, polymeric and ceramic materials as well as of thin-film-substrate composites and of advanced microcomponents. Furthermore it contains data, results, hints and recommendations that are valuable to laboratories for the certification and accreditation of their stress analysis.

Stress analysis is an active field in which many questions remain unsettled. Accordingly, unsolved problems and conflicting results are discussed as well. The assessment of the experimentally determined residual and structural stress states on the static and dynamic behavior of materials and components is handled in a separate chapter.

Students and engineers of materials science and scientists working in laboratories and industries will find this book invaluable.

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ISBN 10:  0444551158 ISBN 13:  9780444551153
Editorial: Elsevier Science, 2015
Tapa blanda

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Hauk, V.; Hauk
Publicado por Elsevier Science, 1997
ISBN 10: 0444824766 ISBN 13: 9780444824769
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ISBN 10: 0444824766 ISBN 13: 9780444824769
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