Artículos relacionados a Digital Noise Monitoring of Defect Origin: 2 (Lecture...
Sinopsis
This book explores the initial stage of the origin of the defect taking into account technical, biological, and other features of several technologies. These technologies allow the defect monitoring at the beginning of the defect origin to be performed at the expense of extracting information from the noise. This book appeals to a wide audience focused on solving numerous problems.
"Sinopsis" puede pertenecer a otra edición de este libro.
Acerca del autor
Charlotte y Peter Fiell son dos autoridades en historia, teoría y crítica del diseño y han escrito más de sesenta libros sobre la materia, muchos de los cuales se han convertido en éxitos de ventas. También han impartido conferencias y cursos como profesores invitados, han comisariado exposiciones y asesorado a fabricantes, museos, salas de subastas y grandes coleccionistas privados de todo el mundo. Los Fiell han escrito numerosos libros para TASCHEN, entre los que se incluyen 1000 Chairs, Diseño del siglo XX, El diseño industrial de la A a la Z, Scandinavian Design y Diseño del siglo XXI.
De la contraportada
Digital Noise Monitoring of Defect Origin is for both academics and professionals in the fields of engineering, biological sciences, physical science, and automation with particular emphasis on power engineering, oil-and-gas extraction, and aviation among others. The focus of the book is on determining defect origins. The author divides the process into the stages of monitoring the defect origin, identification of the defect and its stages, and control of the defect. The significance of this work is also connected to the possibility of using the noise as a data carrier for creating technologies that detect the initial stage of changes in objects.
"Sobre este título" puede pertenecer a otra edición de este libro.
Comprar nuevo
Ver este artículo
EUR 69,42
GRATIS gastos de envío desde Estados Unidos de America a España
Destinos, gastos y plazos de envío
Resultados de la búsqueda para Digital Noise Monitoring of Defect Origin: 2 (Lecture...
Imagen de archivo
Digital Noise Monitoring Of Defect Origin
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide. Nº de ref. del artículo: ABNR-84724
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Digital Noise Monitoring of Defect Origin
Publicado por
SPRINGER NATURE, 2007
ISBN 10: 0387717536
ISBN 13: 9780387717531
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 224 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher. Nº de ref. del artículo: 3625251/12
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Digital Noise Monitoring Of Defect Origin
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service. Nº de ref. del artículo: ABEJUNE24-87570
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen del vendedor
Digital Noise Monitoring of Defect Origin
Impresión bajo demandaLibrería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Gebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Includes several technologies that cover the initial stage of the origin of the defectTheoretically proves the various technologiesExemplifies the applications for solving problems concerning noise monitoring at the beginning of the defect . Nº de ref. del artículo: 5910642
Cantidad disponible: Más de 20 disponibles
Imagen de archivo
Digital Noise Monitoring of Defect Origin (Lecture Notes in Electrical Engineering, 2)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: New. In. Nº de ref. del artículo: ria9780387717531_new
Cantidad disponible: Más de 20 disponibles
Imagen de archivo
DIGITAL NOISE MONITORING OF DEFECT ORIGIN
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service. Nº de ref. del artículo: ABEJUNE24-87571
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen del vendedor
Digital Noise Monitoring of Defect Origin
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: New. Nº de ref. del artículo: 5183238-n
Cantidad disponible: Más de 20 disponibles
Imagen de archivo
Digital Noise Monitoring of Defect Origin
Publicado por
Springer-Verlag New York Inc., 2007
ISBN 10: 0387717536
ISBN 13: 9780387717531
Nuevo
Tapa dura
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Hardback. Condición: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days 539. Nº de ref. del artículo: C9780387717531
Cantidad disponible: Más de 20 disponibles
Imagen del vendedor
Digital Noise Monitoring of Defect Origin
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: New. Nº de ref. del artículo: 5183238-n
Cantidad disponible: Más de 20 disponibles
Imagen de archivo
Digital Noise Monitoring of Defect Origin (Lecture Notes in Electrical Engineering, 2)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: New. Nº de ref. del artículo: ABLIING23Feb2215580172656
Cantidad disponible: Más de 20 disponibles