Sinopsis
Covers in detail promising solutions at the device, circuit, and architecture levels of abstraction after first explaining the sensitivity of the various MOS leakage sources to these conditions from the first principles.
Also treated are the resulting effects so the reader understands the effectiveness of leakage power reduction solutions under these different conditions.
Case studies supply real-world examples that reap the benefits of leakage power reduction solutions as the book highlights different device design choices that exist to mitigate increases in the leakage components as technology scales.
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Reseña del editor
Covers in detail promising solutions at the device, circuit, and architecture levels of abstraction after first explaining the sensitivity of the various MOS leakage sources to these conditions from the first principles.
Also treated are the resulting effects so the reader understands the effectiveness of leakage power reduction solutions under these different conditions.
Case studies supply real-world examples that reap the benefits of leakage power reduction solutions as the book highlights different device design choices that exist to mitigate increases in the leakage components as technology scales.
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Leakage in Nanometer CMOS Technologies.
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Leakage in Nanometer CMOS Technologies (Integrated Circuits and Systems)
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Covers in detail promising solutions at the device, circuit, and architecture levels of abstraction after first explaining the sensitivity of the various MOS leakage sources to these conditions from the first principles. Also treated are the resulting effects so the reader understands the effectiveness of leakage power reduction solutions under these different conditions. Case studies supply real-world examples that reap the benefits of leakage power reduction solutions as the book highlights different device design choices that exist to mitigate increases in the leakage components as technology scales. 320 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9780387257372
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Leakage in Nanometer CMOS Technologies
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Buch. Condición: Neu. Leakage in Nanometer CMOS Technologies | Anantha P. Chandrakasan (u. a.) | Buch | x | Englisch | 2005 | Springer US | EAN 9780387257372 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand. Nº de ref. del artículo: 102300123
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