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Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,: 29 (Optical Science and Engineering) - Tapa blanda
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The publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the practicing scientist or engineer. Readers should have a math backgr
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Lawrence E. Murr
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Electron and ion microscopy and microanalysis. Principles and applications.
Publicado por
[S.l.], CRC Press, 2019
ISBN 10: 0367402947
ISBN 13: 9780367402945
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Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,
Publicado por
Taylor & Francis Ltd, 2019
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Electron and Ion Microscopy and Microanalysis
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Lawrence E. MurrThe publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the prac. Nº de ref. del artículo: 333374005
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Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,: 29 (Optical Science and Engineering)
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Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications
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Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,
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Taylor & Francis Ltd, 2019
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Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition, (Optical Science and Engineering)
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Electron and Ion Microscopy and Microanalysis
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Electron and Ion Microscopy and Microanalysis : Principles and Applications
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Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition, (Optical Science and Engineering)
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