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Advances in X-Ray Analysis: Volume 35B: v. 35 - Tapa dura

 
9780306442490: Advances in X-Ray Analysis: Volume 35B: v. 35

Sinopsis

Advances In X-Ray Analysis by Barrett C.S Et.Al, 9780306442490 , Springer

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Reseña del editor

The proceedings of the combined First Pacific-International Congress on X-Ray Analytical Methods (PICXAM) and Fortieth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, held in Hilo and Honolulu Hawaii, August 1991, comprise reports on the latest developments in international research on X-ray fl

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ISBN 10:  1461366674 ISBN 13:  9781461366676
Editorial: Springer, 2013
Tapa blanda

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Barrett, C.S., Gilfrich, John V., Huang, Ting C., Jenkins, Ron, McCarthy, G.J., Predecki, Paul K., Ryon, R., Smith, Deane K.
Publicado por Springer, 1992
ISBN 10: 0306442493 ISBN 13: 9780306442490
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Librería: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Estados Unidos de America

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Gilfrich John V. Barrett C.S.
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Barrett, Charles S.|Gilfrich, John V.|Huang, Ting C.|Jenkins, Ron|McCarthy, G. J.|Predecki, Paul K.|Ryon, R.|Smith, Deane K.
Publicado por Springer, Berlin, 1992
ISBN 10: 0306442493 ISBN 13: 9780306442490
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Gebunden. Condición: New. Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrument. Nº de ref. del artículo: 897687730

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