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Sinopsis
This book addresses one of the key problems in signal processing, the problem of identifying statistical properties of excursions in a random process in order to simplify the theoretical analysis and make it suitable for engineering applications. Precise and approximate formulas are explained, which are relatively simple and can be used for engineering applications such as the design of devices which can overcome the high initial uncertainty of the self-training period. The information presented in the monograph can be used to implement adaptive signal processing devices capable of detecting or recognizing the wanted signals (with a priori unknown statistical properties) against the background noise. The applications presented can be used in a wide range of fields including medicine, radiolocation, telecommunications, surface quality control (flaw detection), image recognition, thermal noise analysis for the design of semiconductors, and calculation of excessive load in mechanics.
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Acerca del autor
Charlotte y Peter Fiell son dos autoridades en historia, teoría y crítica del diseño y han escrito más de sesenta libros sobre la materia, muchos de los cuales se han convertido en éxitos de ventas. También han impartido conferencias y cursos como profesores invitados, han comisariado exposiciones y asesorado a fabricantes, museos, salas de subastas y grandes coleccionistas privados de todo el mundo. Los Fiell han escrito numerosos libros para TASCHEN, entre los que se incluyen 1000 Chairs, Diseño del siglo XX, El diseño industrial de la A a la Z, Scandinavian Design y Diseño del siglo XXI.
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Applications of Random Process Excursion Analysis (Elsevier Insights)
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Applications of Random Process Excursion Analysis
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Applications of Random Process Excursion Analysis
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Elsevier Science Publishing Co Inc, 2013
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