Sinopsis
Advances in Imaging & Electron Physics merges two long-running serials-Advances in Electronics & Electron Physics and Advances in Optical & Electron Microscopy. The series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains.
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Reseña del editor
Advances in Imaging & Electron Physics merges two long-running serials-Advances in Electronics & Electron Physics and Advances in Optical & Electron Microscopy. The series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains.
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Modern Map Methods in Particle Beam Physics Volume 108
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
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Paperback. Condición: Brand New. 336 pages. 9.00x6.00x0.76 inches. In Stock. Nº de ref. del artículo: zk0124014925
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