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Principles of Semiconductor Network Testing - Tapa blanda

 
9780123992710: Principles of Semiconductor Network Testing

Sinopsis

This book gathers together comprehensive information which test and process professionals will find invaluable. The techniques outlined will help ensure that test methods and data collected reflect actual device performance, rather than 'testing the tester' or being lost in the noise floor. This book addresses the fundamental issues underlying the semiconductor test discipline. The test engineer must understand the basic principles of semiconductor fabrication and process and have an in-depth knowledge of circuit functions, instrumentation and noise sources.

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Reseña del editor

This book gathers together comprehensive information which test and process professionals will find invaluable. The techniques outlined will help ensure that test methods and data collected reflect actual device performance, rather than 'testing the tester' or being lost in the noise floor. This book addresses the fundamental issues underlying the semiconductor test discipline. The test engineer must understand the basic principles of semiconductor fabrication and process and have an in-depth knowledge of circuit functions, instrumentation and noise sources.

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  • EditorialNewnes
  • Año de publicación2011
  • ISBN 10 0123992710
  • ISBN 13 9780123992710
  • EncuadernaciónTapa blanda
  • IdiomaInglés
  • Número de páginas236
  • Contacto del fabricanteno disponible

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Editorial: Newnes, 1995
Tapa dura

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Imagen de archivo

Amir Afshar
Publicado por Newnes, 2011
ISBN 10: 0123992710 ISBN 13: 9780123992710
Nuevo Paperback

Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido

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Paperback. Condición: Brand New. 236 pages. 9.35x6.00x0.54 inches. In Stock. Nº de ref. del artículo: zk0123992710

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