Sinopsis
This special volume of Advances in Imaging and Electron Physics details the current theory, experiments, and applications of neutron and x-ray optics and microscopy for an international readership across varying backgrounds and disciplines. Edited by Dr. Ted Cremer, these volumes attempt to provide rapid assimilation of the presented topics that include neutron and x-ray scatter, refraction, diffraction, and reflection and their potential application.
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Reseña del editor
This special volume of Advances in Imaging and Electron Physics details the current theory, experiments, and applications of neutron and x-ray optics and microscopy for an international readership across varying backgrounds and disciplines. Edited by Dr. Ted Cremer, these volumes attempt to provide rapid assimilation of the presented topics that include neutron and x-ray scatter, refraction, diffraction, and reflection and their potential application.
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Advances in Imaging and Electron Physics: Part A: Volume 172
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Advances In Imaging And Electron Physics
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Advances in Imaging and Electron Physics
Publicado por
Elsevier Science & Technology, Academic Press, 2012
ISBN 10: 0123944228
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Advances in Imaging and Electron Physics: Part A: Volume 172
Publicado por
Academic Press 2012-07-13, 2012
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Advances In Imaging And Electron Physics
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Advances in Imaging and Electron Physics: Vol 142
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Advances in Imaging and Electron Physics : Part A
Publicado por
Elsevier Science & Technology, Academic Press, 2012
ISBN 10: 0123944228
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