Artículos relacionados a Advances in Imaging and Electron Physics: Optics of...
Advances in Imaging and Electron Physics: Optics of Charged Particle Analyzers (Volume 163) (Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 163) - Tapa dura
Sinopsis
Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials--Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. This series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains.
"Sinopsis" puede pertenecer a otra edición de este libro.
Acerca del autor
Peter Hawkes obtained his M.A. and Ph.D (and later, Sc.D.) from the University of Cambridge, where he subsequently held Fellowships of Peterhouse and of Churchill College. From 1959 – 1975, he worked in the electron microscope section of the Cavendish Laboratory in Cambridge, after which he joined the CNRS Laboratory of Electron Optics in Toulouse, of which he was Director in 1987. He was Founder-President of the European Microscopy Society and is a Fellow of the Microscopy and Optical Societies of America. He is a member of the editorial boards of several microscopy journals and serial editor of Advances in Electron Optics.
"Sobre este título" puede pertenecer a otra edición de este libro.
Comprar nuevo
Ver este artículo
EUR 133,11
EUR 3,44 gastos de envío en Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envíoResultados de la búsqueda para Advances in Imaging and Electron Physics: Optics of...
Imagen de archivo
Advances in Imaging and Electron Physics: Optics of Charged Particle Analyzers (Volume 163) (Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 163)
Publicado por
Academic Press, 2010
ISBN 10: 012381314X
ISBN 13: 9780123813145
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: Very Good. 248 pp., Hardcover, minor internal library markings else text clean & binding tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country. Nº de ref. del artículo: ZB1257699
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Advances in Imaging and Electron Physics
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Condición: New. pp. 248 1st Edition. Nº de ref. del artículo: 26655339
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
ADVANCES IN IMAGING AND ELECTRON PHYSICS: VOLUME 163 : OPTICS OF CHARGED PARTICLE ANALYZERS
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service. Nº de ref. del artículo: ABEOCT25-56697
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Advances In Imaging And Electron Physics: Volume 163 : Optics Of Charged Particle Analyzers
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide. Nº de ref. del artículo: ABNR-187770
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Advances in Imaging and Electron Physics
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: New. pp. 248. Nº de ref. del artículo: 8273972
Gastos de envío:
EUR 7,46
De Reino Unido a Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Advances in Imaging and Electron Physics
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: New. pp. 248. Nº de ref. del artículo: 18655329
Gastos de envío:
EUR 9,95
De Alemania a Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Advances in Imaging and Electron Physics: Optics of Charged Particle Analyzers (Volume 163) (Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 163)
Librería: ALLBOOKS1, Direk, SA, Australia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Brand new book. Fast ship. Please provide full street address as we are not able to ship to P O box address. Nº de ref. del artículo: SHAK56697
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Advances in Imaging and Electron Physics: Optics of Charged Particle Analyzers: Volume 163
Impresión bajo demandaLibrería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: new. Questo è un articolo print on demand. Nº de ref. del artículo: 4fef0cbce1f4379fd6904bdf5a2a48a6
Cantidad disponible: Más de 20 disponibles
Imagen del vendedor
Advances in Imaging and Electron Physics
Publicado por
Elsevier Science & Technology, Academic Press, 2010
ISBN 10: 012381314X
ISBN 13: 9780123813145
Nuevo
Tapa dura
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials--Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. This series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9780123813145
Gastos de envío:
EUR 23,00
De Alemania a Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío
Cantidad disponible: 2 disponibles
Imagen de archivo
Advances in Imaging and Electron Physics: Volume 163: Optics of Charged Particle Analyzers (Advances in Imaging & Electron Physics)
Publicado por
Academic Press 2010-09-12, 2010
ISBN 10: 012381314X
ISBN 13: 9780123813145
Nuevo
Tapa dura
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Hardcover. Condición: New. Nº de ref. del artículo: 6666-ELS-9780123813145
Gastos de envío:
EUR 17,78
De Reino Unido a Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío
Cantidad disponible: Más de 20 disponibles