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Descripción Condición: New. Nº de ref. del artículo: ABLIING23Mar3113020161552
Descripción Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -In dieser Monographie werden Verfahren zur modularen Testerzeugung für Schaltnetze entwickelt. Ausgehend von einer Beschreibung der modularen Schaltung und den Tests für die einzelnen Module bestimmen diese Verfahren den Test für die modulare Schaltung. Die Arbeit geht in diesem Zusammenhang auch auf den prüfgerechten Entwurf modularer Schaltungen ein. In Analogie zum klassischen sensibilisierten Pfad, der 1 Bit Testinformation weiterleiten kann, wird der Pfadbegriff auf die parallele Weiterleitung von k Bit Testinformation verallgemeinert. Die Arbeit formalisiert dazu mehrere Klassen von partiell injektiven Pfadfunktionen; daraus werden Kriterien für die Mindesteigenschaften von pfadbildenden Modulen und Algorithmen zum Bilden solcher k-Bit-Pfade abgeleitet. Ziel des Buches ist es, Modultests, die mit speziellen Fehlermodellen und Verfahren in hoher Qualität erzeugbar sind, auch in umfangreichen, modularen Schaltungen anzuwenden. Das Buch liefert dafür die theoretischen Grundlagen und die wesentlichen Algorithmen, die in einer Teilimplementierung auch erprobt wurden. 188 pp. Deutsch. Nº de ref. del artículo: 9783540179382
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Descripción Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In dieser Monographie werden Verfahren zur modularen Testerzeugung für Schaltnetze entwickelt. Ausgehend von einer Beschreibung der modularen Schaltung und den Tests für die einzelnen Module bestimmen diese Verfahren den Test für die modulare Schaltung. Die Arbeit geht in diesem Zusammenhang auch auf den prüfgerechten Entwurf modularer Schaltungen ein. In Analogie zum klassischen sensibilisierten Pfad, der 1 Bit Testinformation weiterleiten kann, wird der Pfadbegriff auf die parallele Weiterleitung von k Bit Testinformation verallgemeinert. Die Arbeit formalisiert dazu mehrere Klassen von partiell injektiven Pfadfunktionen; daraus werden Kriterien für die Mindesteigenschaften von pfadbildenden Modulen und Algorithmen zum Bilden solcher k-Bit-Pfade abgeleitet. Ziel des Buches ist es, Modultests, die mit speziellen Fehlermodellen und Verfahren in hoher Qualität erzeugbar sind, auch in umfangreichen, modularen Schaltungen anzuwenden. Das Buch liefert dafür die theoretischen Grundlagen und die wesentlichen Algorithmen, die in einer Teilimplementierung auch erprobt wurden. Nº de ref. del artículo: 9783540179382
Descripción Paperback. Condición: Brand New. 186 pages. German language. 9.61x6.69x0.43 inches. In Stock. Nº de ref. del artículo: x-3540179380
Descripción Condición: New. 1987. Paperback. . . . . . Nº de ref. del artículo: V9783540179382
Descripción Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. In dieser Monographie werden Verfahren zur modularen Testerzeugung fuer Schaltnetze entwickelt. Ausgehend von einer Beschreibung der modularen Schaltung und den Tests fuer die einzelnen Module bestimmen diese Verfahren den Test fuer die modulare Schaltung. Die. Nº de ref. del artículo: 4883592