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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 117,53
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 110,20
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 164,94
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 92,27
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Traditionally, Computer Aided Design (CAD) tools have been used to create the nominal design of an integrated circuit (IC), such that the circuit nominal response meets the desired performance specifications. In reality, however, due to the disturbances oft.
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Librería: moluna, Greven, Alemania
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Publicado por Springer-Verlag New York Inc., 2012
ISBN 10: 146135935X ISBN 13: 9781461359357
Idioma: Inglés
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 136,57
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
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EUR 136,57
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