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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits
Publicado por Springer, Berlin|Springer International Publishing|Springer, 2021
ISBN 10: 3030516121 ISBN 13: 9783030516123
Idioma: Inglés
Librería: moluna, Greven, Alemania
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Añadir al carritoKartoniert / Broschiert. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimation and GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniqu.
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits
Publicado por Springer International Publishing, 2020
ISBN 10: 3030516091 ISBN 13: 9783030516093
Idioma: Inglés
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides an accessible, comprehensive introduction to soft errorsDescribes an easy to follow procedure for modeling, analysis, and estimation of soft error rate of digital circuitsIncludes state-of-the art soft error aware CAD algorithms.
