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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Librería: Patrico Books, Apollo Beach, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 15,17
EUR 3,46 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritohardcover. Condición: As New. 2nd. Ships Out Tomorrow!
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Librería: Solr Books, Lincolnwood, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 32,01
EUR 6,91 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: very_good. This books is in Very good condition. There may be a few flaws like shelf wear and some light wear.
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Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
Librería: HPB-Emerald, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 86,56
EUR 3,25 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritohardcover. Condición: Very Good. Connecting readers with great books since 1972! Used books may not include companion materials, and may have some shelf wear or limited writing. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 51,10
EUR 105,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 157,27
EUR 13,64 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 171,88
EUR 3,46 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 352 2nd Edition.
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Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 178,47
EUR 3,25 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 184,30
EUR 7,40 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 352 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 205,43
EUR 3,46 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 205,84
EUR 3,46 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 224,22
EUR 13,64 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing (34))
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 219,27
EUR 28,46 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. Like New. book.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 303,55
EUR 14,23 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 2nd edition. 349 pages. 9.10x6.10x0.90 inches. In Stock.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric Cmos Vlsi Circuits
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 306,19
EUR 14,23 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 2nd edition. 328 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing (34))
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 304,87
EUR 28,46 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Like New. Like New. book.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 180,07
EUR 48,99 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Wide coverage of topics in test engineeringUnique defect-oriented focus of the materialsIntroduction to yield engineering common practicesThe 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New cha.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 180,07
EUR 48,99 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 297,67
EUR 9,95 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 352.
