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9789400797987 - Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty: 115 (Lecture Notes in Electrical Engineering) de Krishnaswamy, Smita; Markov, Igor L.; Hayes, John P.... (9 resultados)
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering, 115)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 110,05
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering, 115)
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 127,48
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 95,70
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty | Smita Krishnaswamy (u. a.) | Taschenbuch | Lecture Notes in Electrical Engineering | xii | Englisch | 2014 | Springer | EAN 9789400797987 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Netherlands, Springer Netherlands, 2014
ISBN 10: 9400797982 ISBN 13: 9789400797987
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 109,94
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Logic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caused by external radiation and process variation. In addition, inherently probabilistic quantum- and nano-technologies are on the horizon as we approach the limits of CMOS scaling. Ensuring the reliability of such circuits despite the probabilistic behavior is a key challenge in IC design---one that necessitates a fundamental, probabilistic reformulation of synthesis and testing techniques. This monograph will present techniques for analyzing, designing, and testing logic circuits with probabilistic behavior.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (Lecture Notes in Electrical Engineering, 115)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 169,24
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Netherlands Okt 2014, 2014
ISBN 10: 9400797982 ISBN 13: 9789400797987
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,99
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Logic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caused by external radiation and process variation. In addition, inherently probabilistic quantum- and nano-technologies are on the horizon as we approach the limits of CMOS scaling. Ensuring the reliability of such circuits despite the probabilistic behavior is a key challenge in IC design---one that necessitates a fundamental, probabilistic reformulation of synthesis and testing techniques. This monograph will present techniques for analyzing, designing, and testing logic circuits with probabilistic behavior. 136 pp. Englisch.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 92,27
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presents a comprehensive overview of Logic CircuitsCombines theory with practical examplesMulti-discipline approach to the hot topic of uncertaintyLogic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caus.
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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Netherlands, Springer Netherlands Okt 2014, 2014
ISBN 10: 9400797982 ISBN 13: 9789400797987
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Logic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caused by external radiation and process variation. In addition, inherently probabilistic quantum- and nano-technologies are on the horizon as we approach the limits of CMOS scaling. Ensuring the reliability of such circuits despite the probabilistic behavior is a key challenge in IC design---one that necessitates a fundamental, probabilistic reformulation of synthesis and testing techniques. This monograph will present techniques for analyzing, designing, and testing logic circuits with probabilistic behavior.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 136 pp. Englisch.
