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9783642064531 - Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications: 85 (Springer Series in Materials Science) de Rein, Stefan (9 resultados)
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Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science, 85)
Libro 6 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
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Lifetime Spectroscopy
Libro 6 de 233: Springer Series in Materials ScienceIdioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 2010
ISBN 10: 3642064531 ISBN 13: 9783642064531
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 267,86
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Lifetime Spectroscopy | A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
Libro 6 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 277,65
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Lifetime Spectroscopy | A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications | Stefan Rein | Taschenbuch | xxvi | Englisch | 2010 | Springer-Verlag GmbH | EAN 9783642064531 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications (Springer Series in Materials Science, 85)
Libro 6 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Lifetime Spectroscopy : A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
Libro 6 de 233: Springer Series in Materials ScienceIdioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg, 2010
ISBN 10: 3642064531 ISBN 13: 9783642064531
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. Since it is based on the recombination process, it provides insight into precisely those defects that are relevant to semiconductor devices such as solar cells. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques. The various theoretical predictions are verified experimentally with the context of a comprehensive study on different metal impurities. The quality and consistency of the spectroscopic results, as explained here, confirms the excellent performance of lifetime spectroscopy.
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Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
Libro 6 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 515 pages. 9.21x6.14x1.05 inches. In Stock.
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Lifetime Spectroscopy (eng)
Libro 6 de 233: Springer Series in Materials ScienceLibrería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
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Lifetime Spectroscopy
Libro 6 de 233: Springer Series in Materials ScienceIdioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg Okt 2010, 2010
ISBN 10: 3642064531 ISBN 13: 9783642064531
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. Since it is based on the recombination process, it provides insight into precisely those defects that are relevant to semiconductor devices such as solar cells. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques. The various theoretical predictions are verified experimentally with the context of a comprehensive study on different metal impurities. The quality and consistency of the spectroscopic results, as explained here, confirms the excellent performance of lifetime spectroscopy. 520 pp. Englisch.
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Lifetime Spectroscopy
Libro 6 de 233: Springer Series in Materials ScienceIdioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Okt 2010, 2010
ISBN 10: 3642064531 ISBN 13: 9783642064531
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
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EUR 320,99
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. Since it is based on the recombination process, it provides insight into precisely those defects that are relevant to semiconductor devices such as solar cells. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques. The various theoretical predictions are verified experimentally with the context of a comprehensive study on different metal impurities. The quality and consistency of the spectroscopic results, as explained here, confirms the excellent performance of lifetime spectroscopy.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 520 pp. Englisch.
