Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Goldstein, Joseph I., Newbury, Dale E., Michael, Joseph R., Ritchie, Nicholas W.M., Scott, John Henry J., Joy, David C.
Editorial: Springer
Usado
hardcover
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Academic Book Solutions, Medford, NY, Estados Unidos de America
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Descripción
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Detalles bibliográficos
Título: Scanning Electron Microscopy and X-Ray ...
Editorial: Springer
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