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Robust Regression and Outlier Detection

Rousseeuw, Peter J. And Annick M. Leroy

Editorial: John Wiley & Sons, New York, 1987

Condici�n: Fine Encuadernaci�n de tapa dura

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Librer�a: T. A. Borden Books, Olney, MD, Estados Unidos de America

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Descripci�n

Side edge & endpaper stamp, else fine; 329 pp.; 329 pages. N� de ref. del art�culo 19988

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Detalles bibliogr�ficos

T�tulo: Robust Regression and Outlier Detection

Editorial: John Wiley & Sons, New York

A�o de publicaci�n: 1987

Encuadernaci�n: Hardback

Condici�n: Fine

Condici�n de la sobrecubierta: No Dust Jacket

Edici�n: Fifth Printing.

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