Reliability of MEMS: Testing of Materials and Devices (Advanced Micro and Nanosystems)

Tabata, Osamu, Toshiyuki Tsuchiya Oliver Brand u. a.:

ISBN 10: 3527335013 ISBN 13: 9783527335015
Editorial: Wiley-VCH, 2013
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Excelente Encuadernación de tapa blanda

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