Ion Beam Analysis : Fundamentals and Applications

Nastasi, Michael; Mayer, James W.; Wang, Yongqiang

ISBN 10: 0367445840 ISBN 13: 9780367445843
Editorial: CRC Press, 2019
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

Vendido por GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido

Vendedor de AbeBooks desde 28 de enero de 2020

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Nuevos - Encuadernación de tapa blanda

Condición: Nuevo

Precio:
EUR 83,41
EUR 17,01 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 1 disponibles

Añadir al carrito