High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-test (Frontiers in Electronic Testing)

R. Dean Adams

Editorial: Springer, 2013
ISBN 10: 1475784740 / ISBN 13: 9781475784749
Usado / Paperback / Cantidad disponible: 0
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"Fulfilling a need in the industry and a need in the literature, the book is certain to stimulate a heightened research interest in memory test, memory design, and memory elf test, each of which by itself constitutes an intriguing subject. The observations and approaches of the book make it a most useful work for the professional and the researcher in helping them understand the memories that are being tested." (Current Engineering Practice, Vol. 47, 2002-2003)

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Detalles bibliográficos

Título: High Performance Memory Testing: Design ...
Editorial: Springer
Año de publicación: 2013
Encuadernación: Paperback
Condición del libro: Brand New

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1.

R. DEAN ADAMS
Publicado por Springer (2013)
ISBN 10: 1475784740 ISBN 13: 9781475784749
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R. Dean Adams
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ISBN 10: 1475784740 ISBN 13: 9781475784749
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Descripción Springer-Verlag New York Inc., United States, 2013. Paperback. Condición: New. Language: English . Brand New Book ***** Print on Demand *****.Are memory applications more critical than they have been in the past? Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were small, will easily occur if the design and test engineers do not do their jobs very carefully. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is based on the author s 20 years of experience in memory design, memory reliability development and memory self test. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is written for the professional and the researcher to help them understand the memories that are being tested. Softcover reprint of the original 1st ed. 2003. Nº de ref. del artículo: AAV9781475784749

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Descripción Springer-Verlag New York Inc., United States, 2013. Paperback. Condición: New. Language: English . This book usually ship within 10-15 business days and we will endeavor to dispatch orders quicker than this where possible. Brand New Book. Are memory applications more critical than they have been in the past? Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were small, will easily occur if the design and test engineers do not do their jobs very carefully. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is based on the author s 20 years of experience in memory design, memory reliability development and memory self test. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is written for the professional and the researcher to help them understand the memories that are being tested. Softcover reprint of the original 1st ed. 2003. Nº de ref. del artículo: LIE9781475784749

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ISBN 10: 1475784740 ISBN 13: 9781475784749
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Descripción Springer-Verlag New York Inc., United States, 2013. Paperback. Condición: New. Language: English . Brand New Book ***** Print on Demand *****. Are memory applications more critical than they have been in the past? Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were small, will easily occur if the design and test engineers do not do their jobs very carefully. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is based on the author s 20 years of experience in memory design, memory reliability development and memory self test. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is written for the professional and the researcher to help them understand the memories that are being tested. Softcover reprint of the original 1st ed. 2003. Nº de ref. del artículo: AAV9781475784749

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Adams, R. Dean
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Adams, R. Dean
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Adams, R. Dean
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Descripción Springer. Paperback. Condición: New. 250 pages. Dimensions: 9.2in. x 6.1in. x 0.6in.Are memory applications more critical than they have been in the past Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were small, will easily occur if the design and test engineers do not do their jobs very carefully. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is based on the authors 20 years of experience in memory design, memory reliability development and memory self test. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is written for the professional and the researcher to help them understand the memories that are being tested. This item ships from multiple locations. Your book may arrive from Roseburg,OR, La Vergne,TN. Paperback. Nº de ref. del artículo: 9781475784749

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