Effects of Low-Temperature Operation on the Performance of MOSFETs

ISBN 10: 3844388524 / ISBN 13: 9783844388527
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Descripción:

Effects of Low-Temperature Operation on the Performance of MOSFETs. N° de ref. de la librería

Sobre este título:

Sinopsis: This work discusses the methods of electrical characterization of MOSFETs manufactured in 0.18um mixed signal process over a wide temperature range of 40K to 298K for the development of wide temperature compact models. The effects of low-temperature operation on the performance of 0.18µm MOSFETs have been studied and discussed in terms of sub-threshold characteristics, threshold-voltage, the effect of the body bias and linearity of the device. As it is well understood, the subthreshold slope, the threshold voltage, drive currents of the MOSFETs increase when the temperature of the MOSFETs is lowered, which makes it advantageous to operate the MOSFETs at low-temperatures. However the ID-VG characteristics of MOSFETs become more non-linear as the operating temperature of the MOSFETs is reduced.

Biografía del autor: Achal Kathuria received the B.Tech degree from Dhirubhai Ambani Institute of Information and Communication Technology, Gandhinagar, India, in 2007 and MS degree from Arizona State University in 2010. He worked on extreme low-temperature characterization of MOSFETs for his master's thesis. He is currently working as a design engineer at SanDisk.

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Detalles bibliográficos

Título: Effects of Low-Temperature Operation on the ...



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1.

Kathuria, Achal
Editorial: LAP Lambert Academic Publishing (2011)
ISBN 10: 3844388524 ISBN 13: 9783844388527
Nuevos Tapa blanda Cantidad: 5
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English-Book-Service Mannheim
(Mannheim, Alemania)
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Descripción LAP Lambert Academic Publishing, 2011. Estado de conservación: New. This item is printed on demand for shipment within 3 working days. Nº de ref. de la librería KP9783844388527

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Achal Kathuria
Editorial: LAP Lambert Acad. Publ. Jul 2011 (2011)
ISBN 10: 3844388524 ISBN 13: 9783844388527
Nuevos Taschenbuch Cantidad: 1
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AHA-BUCH GmbH
(Einbeck, Alemania)
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Descripción LAP Lambert Acad. Publ. Jul 2011, 2011. Taschenbuch. Estado de conservación: Neu. 220x150x5 mm. This item is printed on demand - Print on Demand Neuware - This work discusses the methods of electrical characterization of MOSFETs manufactured in 0.18um mixed signal process over a wide temperature range of 40K to 298K for the development of wide temperature compact models. The effects of low-temperature operation on the performance of 0.18µm MOSFETs have been studied and discussed in terms of sub-threshold characteristics, threshold-voltage, the effect of the body bias and linearity of the device. As it is well understood, the subthreshold slope, the threshold voltage, drive currents of the MOSFETs increase when the temperature of the MOSFETs is lowered, which makes it advantageous to operate the MOSFETs at low-temperatures. However the ID-VG characteristics of MOSFETs become more non-linear as the operating temperature of the MOSFETs is reduced. 84 pp. Englisch. Nº de ref. de la librería 9783844388527

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Achal Kathuria
Editorial: LAP Lambert Academic Publishing (2011)
ISBN 10: 3844388524 ISBN 13: 9783844388527
Nuevos Cantidad: > 20
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Books2Anywhere
(Fairford, GLOS, Reino Unido)
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Descripción LAP Lambert Academic Publishing, 2011. PAP. Estado de conservación: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 3 to 5 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000. Nº de ref. de la librería LQ-9783844388527

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Kathuria, Achal
Editorial: LAP Lambert Academic Publishing (2016)
ISBN 10: 3844388524 ISBN 13: 9783844388527
Nuevos Paperback Cantidad: 1
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Ria Christie Collections
(Uxbridge, Reino Unido)
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Descripción LAP Lambert Academic Publishing, 2016. Paperback. Estado de conservación: New. PRINT ON DEMAND Book; New; Publication Year 2016; Not Signed; Fast Shipping from the UK. No. book. Nº de ref. de la librería ria9783844388527_lsuk

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Achal Kathuria
Editorial: LAP Lambert Academic Publishing (2011)
ISBN 10: 3844388524 ISBN 13: 9783844388527
Nuevos Cantidad: > 20
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PBShop
(Secaucus, NJ, Estados Unidos de America)
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Descripción LAP Lambert Academic Publishing, 2011. PAP. Estado de conservación: New. New Book. Shipped from US within 10 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000. Nº de ref. de la librería IQ-9783844388527

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6.

Achal Kathuria
Editorial: LAP Lambert Academic Publishing, Germany (2011)
ISBN 10: 3844388524 ISBN 13: 9783844388527
Nuevos Paperback Cantidad: > 20
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The Book Depository EURO
(London, Reino Unido)
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Descripción LAP Lambert Academic Publishing, Germany, 2011. Paperback. Estado de conservación: New. 220 x 150 mm. Language: English . Brand New Book ***** Print on Demand *****.This work discusses the methods of electrical characterization of MOSFETs manufactured in 0.18um mixed signal process over a wide temperature range of 40K to 298K for the development of wide temperature compact models. The effects of low-temperature operation on the performance of 0.18 m MOSFETs have been studied and discussed in terms of sub-threshold characteristics, threshold-voltage, the effect of the body bias and linearity of the device. As it is well understood, the subthreshold slope, the threshold voltage, drive currents of the MOSFETs increase when the temperature of the MOSFETs is lowered, which makes it advantageous to operate the MOSFETs at low-temperatures. However the ID-VG characteristics of MOSFETs become more non-linear as the operating temperature of the MOSFETs is reduced. Nº de ref. de la librería AAV9783844388527

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7.

Kathuria, Achal
Editorial: LAP LAMBERT Academic Publishing (2011)
ISBN 10: 3844388524 ISBN 13: 9783844388527
Nuevos Paperback Cantidad: 1
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Irish Booksellers
(Rumford, ME, Estados Unidos de America)
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Descripción LAP LAMBERT Academic Publishing, 2011. Paperback. Estado de conservación: New. book. Nº de ref. de la librería 3844388524

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Achal Kathuria
Editorial: LAP LAMBERT Academic Publishing
ISBN 10: 3844388524 ISBN 13: 9783844388527
Nuevos Paperback Cantidad: 20
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BuySomeBooks
(Las Vegas, NV, Estados Unidos de America)
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Descripción LAP LAMBERT Academic Publishing. Paperback. Estado de conservación: New. Paperback. 84 pages. Dimensions: 8.7in. x 5.9in. x 0.2in.This work discusses the methods of electrical characterization of MOSFETs manufactured in 0. 18um mixed signal process over a wide temperature range of 40K to 298K for the development of wide temperature compact models. The effects of low-temperature operation on the performance of 0. 18m MOSFETs have been studied and discussed in terms of sub-threshold characteristics, threshold-voltage, the effect of the body bias and linearity of the device. As it is well understood, the subthreshold slope, the threshold voltage, drive currents of the MOSFETs increase when the temperature of the MOSFETs is lowered, which makes it advantageous to operate the MOSFETs at low-temperatures. However the ID-VG characteristics of MOSFETs become more non-linear as the operating temperature of the MOSFETs is reduced. This item ships from multiple locations. Your book may arrive from Roseburg,OR, La Vergne,TN. Paperback. Nº de ref. de la librería 9783844388527

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