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Simulation of Semiconductor Processes and Devices 2007: SISPAD 2007 - Tapa blanda

 
9783709119112: Simulation of Semiconductor Processes and Devices 2007: SISPAD 2007

Sinopsis

This volume contains the proceedings of the 12th International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, SISPAD 2007, held September 2007 in Vienna, Austria. It provides a global forum for the presentation and discussion of recent advances and developments in the theoretical description, physical modeling and numerical simulation and analysis of semiconductor fabrication processes, device operation and system performance.

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This volume contains the proceedings of the 12th International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, SISPAD 2007, held September 2007 in Vienna, Austria. It provides a global forum for the presentation and discussion of recent advances and developments in the theoretical description, physical modeling and numerical simulation and analysis of semiconductor fabrication processes, device operation and system performance.

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9783211728604: Simulation of Semiconductor Processes and Devices 2007: SISPAD 2007

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ISBN 10:  3211728600 ISBN 13:  9783211728604
Editorial: Springer, 2007
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Grasser, Tibor|Selberherr, Siegfried
Publicado por Springer Vienna, 2017
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Publicado por Springer Vienna Apr 2017, 2017
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This volume contains the proceedings of the 12th International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, SISPAD 2007, held September 2007 in Vienna, Austria. It provides a global forum for the presentation and discussion of recent advances and developments in the theoretical description, physical modeling and numerical simulation and analysis of semiconductor fabrication processes, device operation and system performance. 480 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9783709119112

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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The 'Twelfth International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices' (SISPAD 2007) continues a long series of conferences and is held in September 2007 at the TU Wien, Vienna, Austria. The conference is the leading forum for Technology Computer-Aided Design (TCAD) held alternatingly in the United States, Japan, and Europe. The first SISPAD conference took place in Tokyo in 1996 as the successor to three preceding conferences NUPAD, VPAD, and SISDEP. With its longstanding history SISPAD provides a world-wide forum for the presenta tion and discussion of outstanding recent advances and developments in the field of numerical process and device simulation. Driven by the ongoing miniaturization in semiconductor fabrication technology, the variety of topics discussed at this meeting reflects the ever-growing complexity of the subject. Apart from the classic topics like process, device, and interconnect simulation, mesh generation, a broad spec trum of numerical issues, and compact modeling, new simulation approaches like atomistic and first-principles methods have emerged as important fields of research and are currently making their way into standard TCAD suites. Nº de ref. del artículo: 9783709119112

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Taschenbuch. Condición: Neu. Neuware -The 'Twelfth International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices' (SISPAD 2007) continues a long series of conferences and is held in September 2007 at the TU Wien, Vienna, Austria. The conference is the leading forum for Technology Computer-Aided Design (TCAD) held alternatingly in the United States, Japan, and Europe. The first SISPAD conference took place in Tokyo in 1996 as the successor to three preceding conferences NUPAD, VPAD, and SISDEP. With its longstanding history SISPAD provides a world-wide forum for the presenta tion and discussion of outstanding recent advances and developments in the field of numerical process and device simulation. Driven by the ongoing miniaturization in semiconductor fabrication technology, the variety of topics discussed at this meeting reflects the ever-growing complexity of the subject. Apart from the classic topics like process, device, and interconnect simulation, mesh generation, a broad spec trum of numerical issues, and compact modeling, new simulation approaches like atomistic and first-principles methods have emerged as important fields of research and are currently making their way into standard TCAD suites.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 480 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9783709119112

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Grasser, Tibor (Editor)/ Selberherr, Siegfried (Editor)
Publicado por Springer Verlag, 2016
ISBN 10: 3709119111 ISBN 13: 9783709119112
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido

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