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Radiation Effects in Advanced Semiconductor Materials and Devices (Springer Series in Materials Science): 57 - Tapa blanda

 
9783642077784: Radiation Effects in Advanced Semiconductor Materials and Devices (Springer Series in Materials Science): 57
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This wide-ranging book summarizes the current knowledge of radiation defects in semiconductors, outlining the shortcomings of present experimental and modelling techniques and giving an outlook on future developments. It also provides information on the application of sensors in nuclear power plants.

Contraportada:
In the modern semiconductor industry, there is a growing need to understand and combat potential radiation damage problems. Space applications are an obvious case, but, beyond that, today's device and circuit fabrication rely on increasing numbers of processing steps that involve an aggressive environment where inadvertant radiation damage can occur. This book is both aimed at post-graduate researchers seeking an overview of the field, and will also be immensely useful for nuclear and space engineers and even process engineers. A background knowledge of semiconductor and device physics is assumed, but the basic concepts are all briefly summarized. Finally the book outlines the shortcomings of present experimental and modeling techniques and gives an outlook on future developments.

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  • EditorialSpringer
  • Año de publicación2010
  • ISBN 10 3642077781
  • ISBN 13 9783642077784
  • EncuadernaciónTapa blanda
  • Número de páginas428

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ISBN 10:  3540433937 ISBN 13:  9783540433934
Editorial: Springer, 2002
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Claeys, C.
Publicado por Springer (2010)
ISBN 10: 3642077781 ISBN 13: 9783642077784
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Descripción Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This wide-ranging book summarizes the current knowledge of radiation defects in semiconductors, outlining the shortcomings of present experimental and modelling techniques and giving an outlook on future developments. It also provides information on the application of sensors in nuclear power plants. 428 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9783642077784

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Descripción Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In the modern semiconductor industry, there is a growing need to understand and combat potential radiation damage problems. Space applications are an obvious case, but, beyond that, today's device and circuit fabrication rely on increasing numbers of processing steps that involve an aggressive environment where inadvertant radiation damage can occur. This book is both aimed at post-graduate researchers seeking an overview of the field, and will also be immensely useful for nuclear and space engineers and even process engineers. A background knowledge of semiconductor and device physics is assumed, but the basic concepts are all briefly summarized. Finally the book outlines the shortcomings of present experimental and modeling techniques and gives an outlook on future developments. Nº de ref. del artículo: 9783642077784

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C. Claeys|E. Simoen
Publicado por Springer Berlin Heidelberg (2010)
ISBN 10: 3642077781 ISBN 13: 9783642077784
Nuevo Tapa blanda Cantidad disponible: > 20
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moluna
(Greven, Alemania)

Descripción Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book summarizes the current knowledge of radiation defects in semiconductorsIt will be a useful reference work for scientists involved in semiconductor processing.- This book is important for space applications of semiconductors and solar cells.- I. Nº de ref. del artículo: 5046837

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ISBN 10: 3642077781 ISBN 13: 9783642077784
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