Entwurf eines Bustest-Verfahrens basierend auf dem Broadside-Ansatzes

 
9783639360417: Entwurf eines Bustest-Verfahrens basierend auf dem Broadside-Ansatzes
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Bei den heutigen immer schnelleren digitalen Schaltungen, bekommen Laufzeitverzögerungsfehler eine immer größere Bedeutung. In dieser Arbeit wird ein Verfahren zum Test von digitalen Schaltkreisen auf derartige Fehler vorgestellt. Als zu testende Systeme wurden hierbei hauptsächlich Bussysteme betrachtet. Sie enthalten oft parallel verlaufende Signalleitungen, die sich auf Grund verschiedener Effekte gegenseitig in ihrem Schaltverhalten beeinflussen können. Diese so genannten Crosstalk-Effekte wurden im Speziellen berücksichtigt. Als Grundlage für die Testgenerierung dient der Broadside-Ansatz.

Biografía del autor:

studierte zwischen 2001 und 2007 Informations- und Medientechnik an der Brandenburgischen Technischen Universität Cottbus. Seit 2007 ist er als wissenschaftlicher Mitarbeiter am Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik (IHP) in Frankfurt(Oder) im Bereich Hardwareentwicklung der Abteilung System-Design tätig.

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Thomas Basmer
Publicado por VDM Verlag 2011-06-21 (2011)
ISBN 10: 3639360419 ISBN 13: 9783639360417
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Basmer, Thomas
ISBN 10: 3639360419 ISBN 13: 9783639360417
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Descripción Condición: New. Publisher/Verlag: VDM Verlag Dr. Müller | Entwurf und prototypische Implementierung eines Bustest-Verfahrens basierend auf dem Broadside-Ansatzes | Bei den heutigen immer schnelleren digitalen Schaltungen, bekommen Laufzeitverzögerungsfehler eine immer größere Bedeutung. In dieser Arbeit wird ein Verfahren zum Test von digitalen Schaltkreisen auf derartige Fehler vorgestellt. Als zu testende Systeme wurden hierbei hauptsächlich Bussysteme betrachtet. Sie enthalten oft parallel verlaufende Signalleitungen, die sich auf Grund verschiedener Effekte gegenseitig in ihrem Schaltverhalten beeinflussen können. Diese so genannten Crosstalk-Effekte wurden im Speziellen berücksichtigt. Als Grundlage für die Testgenerierung dient der Broadside-Ansatz. | Format: Paperback | 140 pp. Nº de ref. del artículo: K9783639360417

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Thomas Basmer
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Thomas Basmer
Publicado por VDM Verlag Jun 2011 (2011)
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Descripción VDM Verlag Jun 2011, 2011. Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Neuware - Bei den heutigen immer schnelleren digitalen Schaltungen, bekommen Laufzeitverzögerungsfehler eine immer größere Bedeutung. In dieser Arbeit wird ein Verfahren zum Test von digitalen Schaltkreisen auf derartige Fehler vorgestellt. Als zu testende Systeme wurden hierbei hauptsächlich Bussysteme betrachtet. Sie enthalten oft parallel verlaufende Signalleitungen, die sich auf Grund verschiedener Effekte gegenseitig in ihrem Schaltverhalten beeinflussen können. Diese so genannten Crosstalk-Effekte wurden im Speziellen berücksichtigt. Als Grundlage für die Testgenerierung dient der Broadside-Ansatz. 140 pp. Deutsch. Nº de ref. del artículo: 9783639360417

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Basmer, Thomas
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Thomas Basmer
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Thomas Basmer
Publicado por VDM Verlag Jun 2011 (2011)
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Thomas Basmer
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ISBN 10: 3639360419 ISBN 13: 9783639360417
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Thomas Basmer
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Basmer, Thomas
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