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VLSI-SoC: System-on-Chip in the Nanoscale Era - Design, Verification and Reliability : 24th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large ... in Information and Communication Technology) - Tapa dura
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This book contains extended and revised versions of the best papers presented at the 24th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2016, held in Tallinn, Estonia, in September 2016. The 11 papers included in the book were carefully reviewed and selected from the 36 full papers presented at the conference. The papers cover a wide range of topics in VLSI technology and advanced research. They address the latest scientific and industrial results and developments as well as future trends in the field of System-on-Chip (SoC) Design.
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- EditorialSpringer
- Año de publicación2017
- ISBN 10 3319671030
- ISBN 13 9783319671031
- EncuadernaciónTapa dura
- Número de edición1
- Número de páginas233
- EditorHollstein Thomas, Raik Jaan, Kostin Sergei
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VLSI-SoC: System-on-Chip in the Nanoscale Era ¿ Design, Verification and Reliability
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Descripción Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book contains extended and revised versions of the best papers presented at the 24th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2016, held in Tallinn, Estonia, in September 2016. The 11 papers included in the book were carefully reviewed and selected from the 36 full papers presented at the conference. The papers cover a wide range of topics in VLSI technology and advanced research. They address the latest scientific and industrial results and developments as well as future trends in the field of System-on-Chip (SoC) Design. 248 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9783319671031
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VLSI-SoC: System-on-Chip in the Nanoscale Era ¿ Design, Verification and Reliability : 24th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2016, Tallinn, Estonia, September 26-28, 2016, Revised Selected Papers
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