Artículos relacionados a Data-driven Methods for Fault Detection and Diagnosis...

Data-driven Methods for Fault Detection and Diagnosis in Chemical Processes (Advances in Industrial Control) - Tapa dura

 
9781852332587: Data-driven Methods for Fault Detection and Diagnosis in Chemical Processes (Advances in Industrial Control)

Sinopsis

Book by Russell Evan L Chiang Leo H Braatz Richard D

"Sinopsis" puede pertenecer a otra edición de este libro.

Reseña del editor

Early and accurate fault detection and diagnosis for modern chemical plants can minimise downtime, increase the safety of plant operations, and reduce manufacturing costs. The process-monitoring techniques that have been most effective in practice are based on models constructed almost entirely from process data. The goal of the book is to present the theoretical background and practical techniques for data-driven process monitoring. Process-monitoring techniques presented include: Principal component analysis; Fisher discriminant analysis; Partial least squares; Canonical variate analysis.
The text demonstrates the application of all of the data-driven process monitoring techniques to the Tennessee Eastman plant simulator - demonstrating the strengths and weaknesses of each approach in detail. This aids the reader in selecting the right method for his process application. Plant simulator and homework problems in which students apply the process-monitoring techniques to a nontrivial simulated process, and can compare their performance with that obtained in the case studies in the text are included. A number of additional homework problems encourage the reader to implement and obtain a deeper understanding of the techniques.
The reader will obtain a background in data-driven techniques for fault detection and diagnosis, including the ability to implement the techniques and to know how to select the right technique for a particular application.

"Sobre este título" puede pertenecer a otra edición de este libro.

  • EditorialSpringer
  • Año de publicación2013
  • ISBN 10 1852332581
  • ISBN 13 9781852332587
  • EncuadernaciónTapa dura
  • IdiomaInglés
  • Número de páginas212

Comprar usado

Condición: Excelente
Advances in Industrial Control...
Ver este artículo

EUR 7,29 gastos de envío desde Canada a Estados Unidos de America

Destinos, gastos y plazos de envío

Comprar nuevo

Ver este artículo

EUR 3,52 gastos de envío en Estados Unidos de America

Destinos, gastos y plazos de envío

Otras ediciones populares con el mismo título

9781447111337: Data-driven Methods for Fault Detection and Diagnosis in Chemical Processes (Advances in Industrial Control)

Edición Destacada

ISBN 10:  1447111338 ISBN 13:  9781447111337
Editorial: Springer, 2012
Tapa blanda

Resultados de la búsqueda para Data-driven Methods for Fault Detection and Diagnosis...

Imagen del vendedor

RUSSELL, Evan L.; CHIANG, Leo H.; BRAATZ, Richard D.
Publicado por Springer, London, 2000
ISBN 10: 1852332581 ISBN 13: 9781852332587
Antiguo o usado Tapa dura

Librería: Attic Books (ABAC, ILAB), London, ON, Canada

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Hardcover. Condición: Fine. Advances in Industrial Control series. xiii, 192 p. 24 cm. 49 figures and tables. Hardcover. Nº de ref. del artículo: 116503

Contactar al vendedor

Comprar usado

EUR 22,74
Convertir moneda
Gastos de envío: EUR 7,29
De Canada a Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío

Cantidad disponible: 1 disponibles

Añadir al carrito

Imagen de archivo

Evan Russell Richard D. Braatz Leo H. Chiang Evan L. Russell
Publicado por Springer, 2000
ISBN 10: 1852332581 ISBN 13: 9781852332587
Nuevo Tapa dura

Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America

Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas Valoración 4 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Condición: New. pp. xiv + 212 1st Edition. Nº de ref. del artículo: 26459125

Contactar al vendedor

Comprar nuevo

EUR 54,32
Convertir moneda
Gastos de envío: EUR 3,52
A Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío

Cantidad disponible: 4 disponibles

Añadir al carrito

Imagen de archivo

Russell Evan Braatz Richard D. Chiang Leo H. Russell Evan L.
Publicado por Springer, 2000
ISBN 10: 1852332581 ISBN 13: 9781852332587
Nuevo Tapa dura

Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Condición: New. pp. xiv + 212 Illus. Nº de ref. del artículo: 7388842

Contactar al vendedor

Comprar nuevo

EUR 55,53
Convertir moneda
Gastos de envío: EUR 7,65
De Reino Unido a Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío

Cantidad disponible: 4 disponibles

Añadir al carrito

Imagen de archivo

RUSSELL EVAN L. ET.AL
Publicado por Springer, 2000
ISBN 10: 1852332581 ISBN 13: 9781852332587
Nuevo Tapa dura

Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Condición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide. Nº de ref. del artículo: ABTA-89462

Contactar al vendedor

Comprar nuevo

EUR 65,11
Convertir moneda
Gastos de envío: GRATIS
A Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío

Cantidad disponible: 1 disponibles

Añadir al carrito

Imagen de archivo

Russell Evan Braatz Richard D. Chiang Leo H. Russell Evan L.
Publicado por Springer, 2000
ISBN 10: 1852332581 ISBN 13: 9781852332587
Nuevo Tapa dura

Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Condición: New. pp. xiv + 212. Nº de ref. del artículo: 18459135

Contactar al vendedor

Comprar nuevo

EUR 58,20
Convertir moneda
Gastos de envío: EUR 9,95
De Alemania a Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío

Cantidad disponible: 4 disponibles

Añadir al carrito

Imagen del vendedor

Evan L. Russell
Publicado por Springer London Feb 2000, 2000
ISBN 10: 1852332581 ISBN 13: 9781852332587
Nuevo Taschenbuch
Impresión bajo demanda

Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Early and accurate fault detection and diagnosis for modern chemical plants can minimise downtime, increase the safety of plant operations, and reduce manufacturing costs. The process-monitoring techniques that have been most effective in practice are based on models constructed almost entirely from process data. The goal of the book is to present the theoretical background and practical techniques for data-driven process monitoring. Process-monitoring techniques presented include: Principal component analysis; Fisher discriminant analysis; Partial least squares; Canonical variate analysis.The text demonstrates the application of all of the data-driven process monitoring techniques to the Tennessee Eastman plant simulator - demonstrating the strengths and weaknesses of each approach in detail. This aids the reader in selecting the right method for his process application. Plant simulator and homework problems in which students apply the process-monitoring techniques to a nontrivial simulated process, and can compare their performance with that obtained in the case studies in the text are included. A number of additional homework problems encourage the reader to implement and obtain a deeper understanding of the techniques.The reader will obtain a background in data-driven techniques for fault detection and diagnosis, including the ability to implement the techniques and to know how to select the right technique for a particular application. 212 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9781852332587

Contactar al vendedor

Comprar nuevo

EUR 106,99
Convertir moneda
Gastos de envío: EUR 23,00
De Alemania a Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío

Cantidad disponible: 2 disponibles

Añadir al carrito

Imagen del vendedor

Evan L. Russell
Publicado por Springer London, Springer London, 2000
ISBN 10: 1852332581 ISBN 13: 9781852332587
Nuevo Taschenbuch

Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Early and accurate fault detection and diagnosis for modern chemical plants can minimise downtime, increase the safety of plant operations, and reduce manufacturing costs. The process-monitoring techniques that have been most effective in practice are based on models constructed almost entirely from process data. The goal of the book is to present the theoretical background and practical techniques for data-driven process monitoring. Process-monitoring techniques presented include: Principal component analysis; Fisher discriminant analysis; Partial least squares; Canonical variate analysis.The text demonstrates the application of all of the data-driven process monitoring techniques to the Tennessee Eastman plant simulator - demonstrating the strengths and weaknesses of each approach in detail. This aids the reader in selecting the right method for his process application. Plant simulator and homework problems in which students apply the process-monitoring techniques to a nontrivial simulated process, and can compare their performance with that obtained in the case studies in the text are included. A number of additional homework problems encourage the reader to implement and obtain a deeper understanding of the techniques.The reader will obtain a background in data-driven techniques for fault detection and diagnosis, including the ability to implement the techniques and to know how to select the right technique for a particular application. Nº de ref. del artículo: 9781852332587

Contactar al vendedor

Comprar nuevo

EUR 109,94
Convertir moneda
Gastos de envío: EUR 29,64
De Alemania a Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío

Cantidad disponible: 1 disponibles

Añadir al carrito

Imagen del vendedor

Evan L. Russell|Leo H. Chiang|Richard D. Braatz
Publicado por Springer London, 2000
ISBN 10: 1852332581 ISBN 13: 9781852332587
Nuevo Tapa dura
Impresión bajo demanda

Librería: moluna, Greven, Alemania

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Covers a variety of data-driven process monitoring techniquesIncludes detailed applications in chemical plant simulationIncludes homework problems to enable deeper comprehension of the textEarly and accurate fault detection and diagnosis for mod. Nº de ref. del artículo: 4289444

Contactar al vendedor

Comprar nuevo

EUR 92,27
Convertir moneda
Gastos de envío: EUR 48,99
De Alemania a Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío

Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

Añadir al carrito

Imagen de archivo

Evan L. Russell
Publicado por Springer, 2000
ISBN 10: 1852332581 ISBN 13: 9781852332587
Nuevo Paperback

Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Paperback. Condición: Brand New. 192 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock. Nº de ref. del artículo: zk1852332581

Contactar al vendedor

Comprar nuevo

EUR 130,81
Convertir moneda
Gastos de envío: EUR 11,76
De Reino Unido a Estados Unidos de America
Destinos, gastos y plazos de envío

Cantidad disponible: 1 disponibles

Añadir al carrito