On-wafer Microwave Measurements and De-embedding

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9781630810566: On-wafer Microwave Measurements and De-embedding

This new authoritative resource presents the basics of network analyzer measurement equipment and troubleshooting errors involved in the on-wafer microwave measurement process. This book bridges the gap between theoretical and practical information using real-world practices that address all aspects of on-wafer passive device characterization in the microwave frequency range up to 60GHz. Readers find data and measurements from silicon integrated passive devices fabricated and tested in advance CMOS technologies.

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About the Author:

Errikos Lourandakis is a senior R&D engineer at Helic Inc. He received his Ph.D. from the Institute for ElectronicsEngineering in Erlangen, Germany and a diploma degree in electrical and computer engineering from the University of Patras, Greece.

Review:

Dr. Lourandakis demystifies the art of on-wafer measurements by offering a solid theoretical foundation along with a wealth of practical guidelines to help researchers and lab professionals characterize silicon devices for numerous high-speed applications ranging from 5G RFICs, to automotive radars, to multi-Gbps SoCs." --Dr. Yorgos Koutsoyannopoulos, CEO Helic, Inc.

This book provides an excellent narrative for those engineers wishing to understand on-wafer calibration techniques from the absolute basics up to an advanced level. This is certainly a book I would recommend to my students as a primer for on-wafer device measurement and as a prelude to parameter extraction and device modelling. --Dr. Rob Sloan, reader in millimetre-wave electronics & Royal Society Industrial Fellow

Errikos Lourandakis presents a clear, precise, and elegant document to master all the techniques related to on-wafer vectorial network measurements. Any engineer desiring to work with a microwave/ RF probe station should own this book. --Tibault Reveyrand, Research Associate and Lecturer at University of Colorado, Boulder

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